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D
S. Marconi, Barbero, M. B., Fougeron, D., Godiot, S., Menouni, M., Pangaud, P., Rozanov, A., Breugnon, P., Bomben, M., Calderini, G., Crescioli, F., Le Dortz, O., Marchiori, G., Dzahini, D., Rarbi, F. E., Gaglione, R., Krüger, H., Daas, M., Dieter, Y., Hemperek, T., Hügging, F., Moustakas, K., Pohl, D., Rymaszewski, P., Standke, M., Vogt, M., Wang, T., Wermes, N., Karagounis, M., Stiller, A., Marzocca, C., Marzocca, G., De Robertis, G., Loddo, F., Licciulli, F., Andreazza, A., Liberali, V., Stabile, A., Frontini, L., Bagatin, M., Bisello, D., Gerardin, S., Mattiazzo, S., Paccagnella, A., Vogrig, D., Bonaldo, S., Bacchetta, N., Gaioni, L., De Canio, F., Manghisoni, M., Re, V., Riceputi, E., Traversi, G., Ratti, L., Vacchi, C., Androsov, K., Beccherle, R., Magazzu, G., Minuti, M., Morsani, F., Palla, F., Poulios, S., Bilei, G. M., Menichelli, M., Placidi, P., Dellacasa, G., Demaria, N., Mazza, G., Monteil, E., Pacher, L., Paternò, A., Rivetti, A., Rolo, M. D. Da Roch, Gajanana, D., Gromov, V., van Eijk, B., Kluit, R., Vitkovskiy, A., Benka, T., Havranek, M., Janoska, Z., Marcisovsky, M., Neue, G., Tomasek, L., Kafka, V., Vrba, V., Lopez-Morillo, E., Palomo, F. R., Muñoz, F., Vila, I., Jiménez, E. M. S., Abbaneo, D., Christiansen, J., Orfanelli, S., Casas, L. M. Jara, Conti, E., Bell, S., Prydderch, M. L., Thomas, S., Christian, D. C., Deptuch, G., Fahim, F., Hoff, J., Lipton, R., Liu, T., Zimmerman, T., Miryala, S., Garcia-Sciveres, M., Gnani, D., Krieger, A., Papadopoulou, K., Heim, T., Carney, R., Nachman, B., Renteira, C., Wallangen, V., Hoeferkamp, M., and Seidel, S., Design implementation and test results of the RD53A, a 65 nm large scale chip for next generation pixel detectors at the HL-LHC, in 2018 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference Proceedings (NSS/MIC), 2018.
N. Zugno, Brandonisio, F., Niederfriniger, T., and Bevilacqua, A., On the Design Challenges of Class-C Oscillators in Ultra-Scaled CMOS Technologies, in 2023 18th Conference on Ph.D Research in Microelectronics and Electronics (PRIME), 2023.
M. Ruzzarin, Meneghini, M., de Santi, C., Neviani, A., Yu, F., Strempel, K., Fatahilah, M. Fahlesa, Witzigmann, B., Wasisto, H. Suryo, Waag, A., Meneghesso, G., and Zanoni, E., Demonstration of UV-Induced Threshold Voltage Instabilities in Vertical GaN Nanowire Array-Based Transistors, IEEE Transactions on Electron Devices, vol. 66, pp. 2119-2124, 2019.